X射线拓扑

X射线拓扑（XRT）

与透射电子显微镜类似，X射线衍射可用于成像晶体样品中的晶体学不均匀性。然而，与TEM相比，XRT的一个显著不同之处在于缺乏X射线的良好透镜，因此图像不能像OM和TEM那样容易放大。最佳分辨率由X射线胶片中乳剂的颗粒大小决定，通常约为2-3微米，使用同步辐射可以减少到约1微米。下图展示了Lang设计的最简单的XRT设置。使用反射光束成像的版本（Berg-Barrett方法）也常用，尤其是当样品对X射线不透明时。XRT图像通过记录特定g向量的衍射光束获得，相当于TEM中的暗场图像。XRT相对于TEM的一个优势是可以在气态环境中检查相对较大的样品。因此，结合更高的应变检测精度，XRT适用于研究应力状态至关重要的现象（如断裂）。通过明智选择衍射几何、X射线波长和样品厚度，可以实现高拓扑对比度。