所有 SECM 数据通常都对**稳态电流($i_{T,/infty}$)*进行归一化。这是探针在远离基底(本体溶液)时的电流值: $$ i_{T,/infty} = 4 n F D C^ a /cdot /beta(RG) $$
用于绝缘基底定距。电流 $I$ 与距离 $L$ 的关系近似为: $$ I_{neg}(L) = /frac{i_T}{i_{T,/infty}} /approx /frac{1}{0.292 + 1.515/L + 0.655 /exp(-2.4035/L)} $$ (注:这是简化形式,精确公式包含 RG 修正项)
用于导体基底测速。在完全扩散控制(纯导体)下: $$ I_{pos}(L) = /frac{i_T}{i_{T,/infty}} /approx 0.68 + /frac{0.78177}{L} + 0.3315 /exp(-1.0672/L) $$ 当存在有限动力学(Finite Kinetics, $k_f$)时,公式会变得更复杂,引入无量纲动力学参数 $/kappa$: $$ /kappa = /frac{k_f a}{D} $$ 通过拟合实验曲线获得 $/kappa$,即可算出反应速率常数 $k_f$。
一旦我们通过 SECM 测出了不同电位下的 $k_f$,就可以利用经典的 B-V 方程来提取**标准速率常数($k^0$)**和传递系数($/alpha$): $$ /ln k_f = /ln k^0 - /frac{/alpha F}{RT} (E - E^0) $$ 这使得 SECM 成为测量微观区域电化学性质的终极数学工具。
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